数显薄膜测厚仪

数显薄膜测厚仪产品用途及特点：

数显薄膜测厚仪主要用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。

数显薄膜测厚仪主要技术指标：

1．测量范围：（0-25）mm

2．分辨率：0.001mm 

3．电源：氧化银电池SR44      

4．工作温度：0℃～+40℃       

5.储运温度：-20～+70℃

6．相对湿度：≤80%

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